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EPMA-1720 Series - 特点

Electron Probe Microanalyzer

前沿设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析

X射线取出角决定分析性能,52.5°高取出角更胜一筹

 


图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁ꦡ(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,对表面凹凸明显的样品也能进行高精⛦度分析。

从SEM观察到开始分析,简便易行,大幅度提高工作效率。

同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像

在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。


SEM图像和光学图像在同一显示器上,减少视线的移动。

通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。

 


只需单击一下即可开始SEM图像观察。

只需点击【SEM AUTO】图标,就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。


束流变换更加简单·快速·高精度,且保持聚焦。

只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制,束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。



※外观及规格的变动,恕不另行通知。

{"title":"\u4e0b\u8f7d","description":"Download the latest brochure.","source":"product","key":3507,"max":30,"filter_types":["brochures"],"link_title":"View other Downloads","link_url":"","pdf_links":[]}