金属粒界

观察经锐敏化热处理的SUS304的样品表面的粒界。左图为AFM凹凸像，右图为KFM电位像。由于组成的差异，在KFM像中粒界部分的电位比周边高80mV。（本图片由早稻🧜田大学 理工学院 物质开发工学科 酒井润一先生提供）