中国
分析检测仪器
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电势绘图
观察硅基底上的金喷镀面,用矢量扫描模式按照图1所示的轨迹进行绘图。此时,用导电性探针,在探针与样品间形成微小电势。绘图后,用AFM、KFM同时测定,在AFM像(图2)的形貌观察中未看到变化,在KFM像(图3)♛的电位测定中发现描画轨迹的电位比周围约低50mV。